Normy UNE - Španělské národní normy - strana 3055

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased hast (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in February of 2026.)
(Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 24: Resistencia a la humedad acelerada. HAST no polarizado. (Ratificada por la Asociación Espanola de Normalización en febrero de 2026.))

Norma vydaná dňa 1.2.2026

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 25: Temperature cycling
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 25: Teplotní cykly.)

Norma vydaná dňa 11.6.2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in May of 2018.)
(Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 26: Ensayo de la sensibilidad a la descarga electrostática (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM) (Ratificada por la Asociación Espanola de Normalización en mayo de 2018.))

Norma vydaná dňa 1.5.2018

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in April of 2026.)
(Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 26: Ensayo de la sensibilidad a la descarga electrostática (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM) (Ratificada por la Asociación Espanola de Normalización en abril de 2026.))

Norma vydaná dňa 1.4.2026

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006) (Endorsed by AENOR in November of 2006.)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 27: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Strojový model (MM).)

Norma vydaná dňa 1.11.2006

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (Endorsed by AENOR in January of 2013.)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 27: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Strojový model (MM).)

Zmena vydaná dňa 1.1.2013

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in May of 2022.)
(Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 28: Ensayo de la sensibilidad a la descarga electrostática. Modelo de dispositivo cargado- Nivel de dispositivo. (Ratificada por la Asociación Espanola de Normalización en mayo de 2022.))

Norma vydaná dňa 1.5.2022

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (Endorsed by AENOR in November of 2011.)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 29: Zkouška zavření.)

Norma vydaná dňa 1.11.2011

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in July of 2017.)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 3: Vnější vizuální kontrola.)

Norma vydaná dňa 1.7.2017

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in November of 2020.)
(Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 30: Preacondicionamiento de dispositivos de montaje superficial no herméticos antes de su ensayo de fiabilidad. (Ratificada por la Asociación Espanola de Normalización en noviembre de 2020.))

Norma vydaná dňa 1.11.2020