Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
UNE-EN 60749-29:2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (Endorsed by AENOR in November of 2011.)
NORMA vydaná dňa 1.11.2011
Informácie o norme:
Označenie normy: UNE-EN 60749-29:2011
Dátum vydania normy: 1.11.2011
Kód tovaru: NS-1118063
Počet strán: 26
Približná hmotnosť: 78 g (0.17 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Kategórie - podobné normy:
Doporučujeme:
