Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in May of 2022.)
NORMA vydaná dňa 1.5.2022
Označenie normy: UNE-EN IEC 60749-28:2022
Dátum vydania normy: 1.5.2022
Kód tovaru: NS-1122274
Počet strán: 57
Približná hmotnosť: 171 g (0.38 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Posledná aktualizácia: 2026-09-04 (Počet položiek: 2 300 131)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.