Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
UNE-EN 60749-27:2006
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006) (Endorsed by AENOR in November of 2006.)
NORMA vydaná dňa 1.11.2006
Informácie o norme:
Označenie normy: UNE-EN 60749-27:2006
Dátum vydania normy: 1.11.2006
Kód tovaru: NS-1118060
Počet strán: 17
Približná hmotnosť: 51 g (0.11 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Kategórie - podobné normy:
K tejto norme patria tieto zmeny:
UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012
Zmena
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (Endorsed by AENOR in January of 2013.)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 27: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Strojový model (MM).)
Zmena vydaná dňa 1.1.2013
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
