Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (Endorsed by AENOR in January of 2013.)
NORMA vydaná dňa 1.1.2013
Informácie o norme:
Označenie normy: UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012
Poznámka: Zmena
Dátum vydania normy: 1.1.2013
Kód tovaru: NS-1118059
Počet strán: 11
Približná hmotnosť: 33 g (0.07 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Kategórie - podobné normy:
Táto zmena (oprava) patrí k tejto norme:
UNE-EN 60749-27:2006
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006) (Endorsed by AENOR in November of 2006.)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 27: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Strojový model (MM).)
Norma vydaná dňa 1.11.2006
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Odporúčame:
EviZak - všetky zákony vrátane ich evidencie na jednom mieste
Poskytovanie aktuálnych informácií o legislatívnych predpisoch vyhlásených v Zbierke zákonov od roku 1945.
Aktualizácia 2x v mesiaci !
Chcete vedieť viac informácii ? Pozrite sa na túto stránku.
