Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in July of 2017.)
NORMA vydaná dňa 1.7.2017
Označenie normy: UNE-EN 60749-3:2017
Dátum vydania normy: 1.7.2017
Kód tovaru: NS-1118064
Počet strán: 21
Približná hmotnosť: 63 g (0.14 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Posledná aktualizácia: 2026-10-26 (Počet položiek: 2 208 060)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.