Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 60749-24-ed.1.0
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 24: Odolnosť proti vlhkosti - Zrýchlené nezaujaté hast
NORMA vydaná dňa 9.3.2004
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 60749-24-ed.1.0
Dátum vydania normy: 9.3.2004
Kód tovaru: NS-411389
Počet strán: 19
Približná hmotnosť: 57 g (0.13 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC 60749-24-ed.1.0 :
The unbiased highly accelerated stress test is performed for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetically packaged solid-state devices in humid environments. It employs temperature and humidity under non-condensing conditions to accelerate the penetration of moisture through the external protective material or along the interface between the external protective material and the metallic conductors which pass through it. L essai de resistance a lhumidite acceleree sans polarisation est realise dans le but devaluer la fiabilite des dispositifs a letat solide sous boitiers non hermetiques dans des environnements humides. Utilise une temperature et une humidite dans des conditions sans condensation, pour accelerer la penetration dhumidite a travers le materiau de protection exterieur (agent denrobage ou de scellement) ou par linterface entre le materiau de protection exterieur et les conducteurs metalliques qui le traversent.
Podobné normy:
18.7.2006
29.9.2010
29.3.2007
19.5.2010
26.4.2010
22.4.2010
Doporučujeme:
