Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 62374-1-ed.1.0
Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
Automaticky preložený názov:
Polovodičové prístroje - Časť 1: v závislosti na čase elektrický prieraz (TDDB) test na inter-kovových vrstiev
NORMA vydaná dňa 29.9.2010
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 62374-1-ed.1.0
Dátum vydania normy: 29.9.2010
Kód tovaru: NS-414554
Počet strán: 32
Približná hmotnosť: 96 g (0.21 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC 62374-1-ed.1.0 :
IEC 62374-1:2010 describes a test method, test structure and lifetime estimation method of the time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers applied in semiconductor devices. La CEI 62374-1:2010 decrit une methode dessai, une structure dessai et une methode destimation de la duree de vie dun essai de rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour des couches intermetalliques appliquees dans des dispositifs a semiconducteurs.
Doporučujeme:
