Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 62416-ed.1.0
Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors
Automaticky preložený názov:
Polovodičové zariadenia - Skúška Hot nosič na MOS tranzistorov
NORMA vydaná dňa 26.4.2010
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 62416-ed.1.0
Dátum vydania normy: 26.4.2010
Kód tovaru: NS-414599
Počet strán: 20
Približná hmotnosť: 60 g (0.13 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC 62416-ed.1.0 :
IEC 62416:2010 describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime. La CEI 62416:2010 decrit lessai de porteur chaud au niveau de la plaquette sur les transistors NMOS et PMOS. Cet essai est destine a determiner si les transistors individuels sont conformes a la duree de vie exigee du porteur chaud dans un processus (C)MOS donne.
Podobné normy:
15.2.1990
17.12.1991
30.12.1988
15.5.1988
18.7.2006
29.9.2010
Doporučujeme:
