Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors
Automaticky preložený názov:
Polovodičové zariadenia - Skúška Hot nosič na MOS tranzistorov
NORMA vydaná dňa 26.4.2010
Označenie normy: IEC 62416-ed.1.0
Dátum vydania normy: 26.4.2010
Kód tovaru: NS-414599
Počet strán: 20
Približná hmotnosť: 60 g (0.13 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
IEC 62416:2010 describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime. La CEI 62416:2010 decrit lessai de porteur chaud au niveau de la plaquette sur les transistors NMOS et PMOS. Cet essai est destine a determiner si les transistors individuels sont conformes a la duree de vie exigee du porteur chaud dans un processus (C)MOS donne.
15.2.1990
17.12.1991
30.12.1988
15.5.1988
18.7.2006
29.9.2010
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2024-09-11 (Počet položiek: 2 346 290)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.