Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 62373-ed.1.0
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
Automaticky preložený názov:
Stability Skúška Bias teplote na kov-oxid, polovodič, tranzistory riadené poľom (MOSFET)
NORMA vydaná dňa 18.7.2006
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 62373-ed.1.0
Dátum vydania normy: 18.7.2006
Kód tovaru: NS-414553
Počet strán: 27
Približná hmotnosť: 81 g (0.18 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC 62373-ed.1.0 :
Provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) Fournit une procedure dessai pour la stabilite de temperature en polarisation (essai BT) des MOSFET (transistor a effet de champ metaloxyde-semiconducteurs)
Podobné normy:
15.5.1988
29.9.2010
29.3.2007
19.5.2010
26.4.2010
22.4.2010
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
