Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Constant current electromigration test
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Konštantný prúd skúška electromigration
NORMA vydaná dňa 19.5.2010
Označenie normy: IEC 62415-ed.1.0
Dátum vydania normy: 19.5.2010
Kód tovaru: NS-414598
Počet strán: 22
Približná hmotnosť: 66 g (0.15 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
IEC 62415:2010 describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts. La CEI 62415:2010 decrit une methode pour des essais conventionnels delectromigration en courant constant de lignes metalliques, de chaines de trous de liaison et de contacts de trous de liaison.
15.2.1990
17.12.1991
30.12.1988
15.5.1988
18.7.2006
29.9.2010
Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2024-09-11 (Počet položiek: 2 346 290)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.