Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 62415-ed.1.0
Semiconductor devices - Constant current electromigration test
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Konštantný prúd skúška electromigration
NORMA vydaná dňa 19.5.2010
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 62415-ed.1.0
Dátum vydania normy: 19.5.2010
Kód tovaru: NS-414598
Počet strán: 22
Približná hmotnosť: 66 g (0.15 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC 62415-ed.1.0 :
IEC 62415:2010 describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts. La CEI 62415:2010 decrit une methode pour des essais conventionnels delectromigration en courant constant de lignes metalliques, de chaines de trous de liaison et de contacts de trous de liaison.
Podobné normy:
15.2.1990
17.12.1991
30.12.1988
15.5.1988
18.7.2006
29.9.2010
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
