IEC 62415-ed.1.0

Semiconductor devices - Constant current electromigration test

NORMA vydaná dňa 19.5.2010

Anglicky a francúzsky -
Elektronické PDF (48.90 EUR)

Anglicky a francúzsky -

Tlačené (48.90 EUR)

Anglicky a francúzsky -

CD-ROM (50.40 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: IEC 62415-ed.1.0
Dátum vydania normy: 19.5.2010
Počet strán: 22
Približná hmotnosť: 66 g (0.15 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC

Anotácia textu normy IEC 62415-ed.1.0 :

IEC 62415:2010 describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts. La CEI 62415:2010 decrit une methode pour des essais conventionnels delectromigration en courant constant de lignes metalliques, de chaines de trous de liaison et de contacts de trous de liaison.