Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 62374-ed.1.0
Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Automaticky preložený názov:
Polovodičové zariadenia - časovo závislé elektrický prieraz (TDDB) test na dielektrickou filmy
NORMA vydaná dňa 29.3.2007
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 62374-ed.1.0
Dátum vydania normy: 29.3.2007
Kód tovaru: NS-414555
Počet strán: 43
Približná hmotnosť: 129 g (0.28 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC 62374-ed.1.0 :
Provides a test method of Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) for gate dielectric films on semiconductor devices and a product lifetime estimation method of TDDB failure Cette norme decrit une methode d essai de la rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour films dielectriques de grille des dispositifs a semiconducteurs et une methode d estimation de la duree de vie de produit en presence d unedefaillance de type TDDB.
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
