JIS - Japonské technické normy - strana 610

Normy JIS - Japonské technické normy - strana 610

Asociace JIS se zabývá průmyslovými a minerálními produkty srovnatelnými s normami zaváděnými různými průmyslovými asociacemi za účelem řešení konkrétních problémů, či s normami, které zavádí a používají samotné společnosti (provozní příručky, produktové specifikace, atd.). Potřeba společného postupu ve společnostech jednoho průmyslového sektoru vede k zavádění společných průmyslových norem a ta samá potřeba ve smyslu většího rozšíření vedla i k zavedení asociace JIS.

Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "JIS - Japonské technické normy - strana 610" podľa:    


JIS H0543:2014

Testing method of determining bendability for magnesium alloy sheets

Norma vydaná dňa 20.3.2014

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


SKLADOM
JIS H0544:2017

Magnesium alloys -- Flammability test method

Norma vydaná dňa 20.11.2017

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


SKLADOM
JIS H0601:1962

Testing methods of resistivity for germanium

Norma vydaná dňa 25.10.1962

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


SKLADOM
JIS H0602:1995

Testing method of resistivity for silicon crystals and silicon wafers with four-point probe

Norma vydaná dňa 30.11.1995

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


SKLADOM
JIS H0603:1978

Measurement of minority carrier life time in germanium by photoconductive decay method

Norma vydaná dňa 31.3.1978

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


SKLADOM
JIS H0604:1995

Measuring of minority-carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method

Norma vydaná dňa 31.7.1995

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


SKLADOM
JIS H0607:1978

Determination of conductivity type in germanium by thermoelectromotive method

Norma vydaná dňa 10.3.1978

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


SKLADOM
JIS H0609:1999

Test methods of crystalline defects in silicon by preferential etch techniques

Norma vydaná dňa 29.2.2000

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


SKLADOM
JIS H0610:1966

Method of measurement of etch pit density of germanium crystal

Norma vydaná dňa 31.1.1967

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


SKLADOM
JIS H0611:1994

Methods of measurement of thickness, thickness variation and bow for silicon wafer

Norma vydaná dňa 28.2.1994

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


SKLADOM

Zobrazený záznam od 6090 až 6100 z celkom 11847 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.