Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Asociace JIS se zabývá průmyslovými a minerálními produkty srovnatelnými s normami zaváděnými různými průmyslovými asociacemi za účelem řešení konkrétních problémů, či s normami, které zavádí a používají samotné společnosti (provozní příručky, produktové specifikace, atd.). Potřeba společného postupu ve společnostech jednoho průmyslového sektoru vede k zavádění společných průmyslových norem a ta samá potřeba ve smyslu většího rozšíření vedla i k zavedení asociace JIS.
Visual inspection for sliced and lapped silicon wafers
Norma vydaná dňa 5.1.1978
Vybraný formát:Visual inspection for silicon wafers with specular surfaces
Norma vydaná dňa 31.1.1996
Vybraný formát:Test method for determination of impurity concentrations in silicon crystal by photoluminescence spectroscopy
Norma vydaná dňa 21.9.2021
Vybraný formát:Test method for low substitutional atomic carbon content of single crystal silicon by Fourier transform infrared absorption spectroscopy at room temperature
Norma vydaná dňa 21.3.2024
Vybraný formát:Test method for determination of low carbon impurity concentration in silicon single crystals by photoluminescence spectroscopy
Norma vydaná dňa 21.3.2024
Vybraný formát:General rules for chemical analysis of copper and copper alloys
Norma vydaná dňa 31.1.2001
Vybraný formát:Copper and copper alloys -- Determination of copper content
Norma vydaná dňa 22.8.2022
Vybraný formát:Methods for determination of tin in copper and copper alloys
Norma vydaná dňa 20.12.2024
Vybraný formát:Methods for determination of lead in copper and copper alloys
Norma vydaná dňa 20.3.2009
Vybraný formát:Methods for determination of iron in copper and copper alloys
Norma vydaná dňa 20.3.2002
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 6100 až 6110 z celkom 11847 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-08-19 (Počet položiek: 2 298 207)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.