Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
JIS H0614:1996
Visual inspection for silicon wafers with specular surfaces
NORMA vydaná dňa 31.1.1996
| Jazyk | |
| Prevedenie |
|
| Dostupnosť | SKLADOM |
| Cena | NAOTÁZKU bez DPH |
| NA OTÁZKU |
Informácie o norme:
Označenie normy: JIS H0614:1996
Dátum vydania normy: 31.1.1996
Kód tovaru: NS-1078243
Počet strán: 8
Približná hmotnosť: 24 g (0.05 libier)
Krajina: Japonská technická norma
Kategória: Technické normy JIS
Kategórie - podobné normy:
Polovodičové materiály
Ostatní neželezné kovy a jejich slitiny
Doporučujeme:
