Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
JIS H0617:2024
Test method for determination of low carbon impurity concentration in silicon single crystals by photoluminescence spectroscopy
NORMA vydaná dňa 21.3.2024
| Jazyk | |
| Prevedenie |
|
| Dostupnosť | SKLADOM |
| Cena | NAOTÁZKU bez DPH |
| NA OTÁZKU |
Informácie o norme:
Označenie normy: JIS H0617:2024
Dátum vydania normy: 21.3.2024
Kód tovaru: NS-1183408
Počet strán: 22
Približná hmotnosť: 66 g (0.15 libier)
Krajina: Japonská technická norma
Kategória: Technické normy JIS
Kategórie - podobné normy:
Polovodičové materiály
Nekovové nerosty
Ostatní neželezné kovy a jejich slitiny
Doporučujeme:
