Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
JIS H0602:1995
Testing method of resistivity for silicon crystals and silicon wafers with four-point probe
NORMA vydaná dňa 30.11.1995
| Jazyk | |
| Prevedenie |
|
| Dostupnosť | SKLADOM |
| Cena | NAOTÁZKU bez DPH |
| NA OTÁZKU |
Informácie o norme:
Označenie normy: JIS H0602:1995
Dátum vydania normy: 30.11.1995
Kód tovaru: NS-1078235
Počet strán: 14
Približná hmotnosť: 42 g (0.09 libier)
Krajina: Japonská technická norma
Kategória: Technické normy JIS
Kategórie - podobné normy:
Polovodičové materiály
Ostatní neželezné kovy a jejich slitiny
Doporučujeme:
