Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
JIS H0604:1995
Measuring of minority-carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method
NORMA vydaná dňa 31.7.1995
| Jazyk | |
| Prevedenie |
|
| Dostupnosť | SKLADOM |
| Cena | NAOTÁZKU bez DPH |
| NA OTÁZKU |
Informácie o norme:
Označenie normy: JIS H0604:1995
Dátum vydania normy: 31.7.1995
Kód tovaru: NS-1078237
Počet strán: 6
Približná hmotnosť: 18 g (0.04 libier)
Krajina: Japonská technická norma
Kategória: Technické normy JIS
Kategórie - podobné normy:
Polovodičové materiály
Ostatní neželezné kovy a jejich slitiny
Doporučujeme:
