Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
JIS H0609:1999
Test methods of crystalline defects in silicon by preferential etch techniques
NORMA vydaná dňa 29.2.2000
| Jazyk | |
| Prevedenie |
|
| Dostupnosť | SKLADOM |
| Cena | NAOTÁZKU bez DPH |
| NA OTÁZKU |
Informácie o norme:
Označenie normy: JIS H0609:1999
Dátum vydania normy: 29.2.2000
Kód tovaru: NS-1078239
Počet strán: 17
Približná hmotnosť: 51 g (0.11 libier)
Krajina: Japonská technická norma
Kategória: Technické normy JIS
Kategórie - podobné normy:
Integrované obvody. Mikroelektronika
Ostatní neželezné kovy a jejich slitiny
Doporučujeme:
