Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Normy JIS - Japonské technické normy - strana 339
Asociace JIS se zabývá průmyslovými a minerálními produkty srovnatelnými s normami zaváděnými různými průmyslovými asociacemi za účelem řešení konkrétních problémů, či s normami, které zavádí a používají samotné společnosti (provozní příručky, produktové specifikace, atd.). Potřeba společného postupu ve společnostech jednoho průmyslového sektoru vede k zavádění společných průmyslových norem a ta samá potřeba ve smyslu většího rozšíření vedla i k zavedení asociace JIS.
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
JIS C5583:1992
Zobraziť všetky technické informácie
Helical-scan video tape cassette system using 8 mm magnetic tape -- 8 mm Video
Norma vydaná dňa 31.8.1992
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5600:2006
Zobraziť všetky technické informácie
Glossary of basic terms used in electrotechnology
Norma vydaná dňa 20.11.2006
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5601:1975
Zobraziť všetky technické informácie
Glossary of terms used in electronics and telecommunications (radiotelecommunications No.1)
Norma vydaná dňa 30.6.1975
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5602:1986
Zobraziť všetky technické informácie
Glossary of passive components for electronic equipment
Norma vydaná dňa 31.3.1986
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5603:1993
Zobraziť všetky technické informácie
Terms and definitions for printed circuits
Norma vydaná dňa 31.7.1993
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5630-1:2017
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 1: Terms and definitions
Norma vydaná dňa 21.3.2017
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5630-12:2014
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures
Norma vydaná dňa 20.2.2014
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5630-13:2014
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 13: Bend-and shear-type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures
Norma vydaná dňa 20.2.2014
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5630-18:2014
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 18: Bend testing methods of thin film materials
Norma vydaná dňa 22.12.2014
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5630-19:2014
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 19: Electronic compasses
Norma vydaná dňa 22.12.2014
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 3380 až 3390 z celkom 11844 záznamov.
Potrebujete pomoc?
