Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 13: Bend-and shear-type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures
NORMA vydaná dňa 20.2.2014
| Jazyk | |
| Prevedenie |
|
| Dostupnosť | SKLADOM |
| Cena | NAOTÁZKU bez DPH |
| NA OTÁZKU |
Označenie normy: JIS C5630-13:2014
Dátum vydania normy: 20.2.2014
Kód tovaru: NS-1075553
Počet strán: 12
Približná hmotnosť: 36 g (0.08 libier)
Krajina: Japonská technická norma
Kategória: Technické normy JIS
Poskytovanie aktuálnych informácií o legislatívnych predpisoch vyhlásených v Zbierke zákonov od roku 1945.
Aktualizácia 2x v mesiaci !
Chcete vedieť viac informácii ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2026-04-17 (Počet položiek: 2 274 270)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.