Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Normy JIS - Japonské technické normy - strana 340
Asociace JIS se zabývá průmyslovými a minerálními produkty srovnatelnými s normami zaváděnými různými průmyslovými asociacemi za účelem řešení konkrétních problémů, či s normami, které zavádí a používají samotné společnosti (provozní příručky, produktové specifikace, atd.). Potřeba společného postupu ve společnostech jednoho průmyslového sektoru vede k zavádění společných průmyslových norem a ta samá potřeba ve smyslu většího rozšíření vedla i k zavedení asociace JIS.
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
JIS C5630-2:2009
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices-- Part 2: Tensile testing method of thin film materials
Norma vydaná dňa 20.3.2009
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5630-20:2015
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 20: Gyroscopes
Norma vydaná dňa 20.11.2015
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5630-26:2017
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 26: Description and measurement methods for micro trench and needle structures
Norma vydaná dňa 20.10.2017
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5630-28:2020
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 28: Performance testing method of vibration-driven MEMS electret energy harvesting devices
Norma vydaná dňa 23.3.2020
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5630-3:2009
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices-- Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing
Norma vydaná dňa 20.3.2009
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5630-30:2020
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 30: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of MEMS piezoelectric thin film
Norma vydaná dňa 23.3.2020
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5630-6:2011
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials
Norma vydaná dňa 22.8.2011
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5750-3-1:2006
Zobraziť všetky technické informácie
Dependability management -- Part 3-1: Application guide -- Analysis techniques for dependability -- Guide on methodology
Norma vydaná dňa 20.11.2006
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5750-3-2:2008
Zobraziť všetky technické informácie
Dependability management -- Part 3-2: Application guide -- Collection of dependability data from the field
Norma vydaná dňa 20.3.2008
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5750-3-3:2008
Zobraziť všetky technické informácie
Dependability management -- Part 3-3: Application guide -- Life cycle costing
Norma vydaná dňa 20.3.2008
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 3390 až 3400 z celkom 11844 záznamov.
Potrebujete pomoc?
