Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
JIS C5630-3:2009
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices-- Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing
NORMA vydaná dňa 20.3.2009
| Jazyk | |
| Prevedenie |
|
| Dostupnosť | SKLADOM |
| Cena | NAOTÁZKU bez DPH |
| NA OTÁZKU |
Informácie o norme:
Označenie normy: JIS C5630-3:2009
Dátum vydania normy: 20.3.2009
Kód tovaru: NS-1075560
Počet strán: 6
Približná hmotnosť: 18 g (0.04 libier)
Krajina: Japonská technická norma
Kategória: Technické normy JIS
Kategórie - podobné normy:
Doporučujeme:
