Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
JIS C5630-18:2014
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 18: Bend testing methods of thin film materials
NORMA vydaná dňa 22.12.2014
| Jazyk | |
| Prevedenie |
|
| Dostupnosť | SKLADOM |
| Cena | NAOTÁZKU bez DPH |
| NA OTÁZKU |
Informácie o norme:
Označenie normy: JIS C5630-18:2014
Dátum vydania normy: 22.12.2014
Kód tovaru: NS-1075554
Počet strán: 12
Približná hmotnosť: 36 g (0.08 libier)
Krajina: Japonská technická norma
Kategória: Technické normy JIS
Kategórie - podobné normy:
Doporučujeme:
