Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
JIS C5630-12:2014
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures
NORMA vydaná dňa 20.2.2014
| Jazyk | |
| Prevedenie |
|
| Dostupnosť | SKLADOM |
| Cena | NAOTÁZKU bez DPH |
| NA OTÁZKU |
Informácie o norme:
Označenie normy: JIS C5630-12:2014
Dátum vydania normy: 20.2.2014
Kód tovaru: NS-1075552
Počet strán: 24
Približná hmotnosť: 72 g (0.16 libier)
Krajina: Japonská technická norma
Kategória: Technické normy JIS
Kategórie - podobné normy:
Doporučujeme:
