Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 60749-16-ed.1.0
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 16: Detekcia krokového hluku častíc (PIND)
NORMA vydaná dňa 17.1.2003
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 60749-16-ed.1.0
Dátum vydania normy: 17.1.2003
Kód tovaru: NS-411373
Počet strán: 13
Približná hmotnosť: 39 g (0.09 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC 60749-16-ed.1.0 :
Defines a test aiming at detecting the presence of loose particles inside a cavity device such as, for example, chips of ceramic, pieces of bonding wire or solder balls (prills). Definit un essai permettant de detecter la presence de particules libres a linterieur dun dispositif a cavite, comme des particules de ceramique, des elements de fil de liaison ou des boules de brasure (granules).
Podobné normy:
25.2.2010
11.12.2001
30.8.2010
30.8.2010
11.12.2012
29.9.2000
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
