Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.
Characteristics of hollow pressurised and unpressurised ceramic and glass insulators for use in electrical equipment with rated voltages greater than 1000 V
Norma vydaná dňa 14.5.2008
Vybraný formát:
Nuclear instrumentation - Housed scintillators - Test methods of light output and intrinsic resolution
(Instrumentation nucleaire - Scintillateurs montes - Methodes d´essai de lumiere sortante et de resolution intrinseque)
Norma vydaná dňa 3.2.2021
Vybraný formát:
Semiconductor devices - Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Part 1: Fast BTI test for MOSFET
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai de stabilite de temperature en polarisation pour transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteur (MOSFET) - Partie 1: Essai rapide de BTI pour les MOSFET)
Norma vydaná dňa 15.7.2020
Vybraný formát:
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
(Essai de stabilite de temperature en polarisation pour transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteur (MOSFET))
Norma vydaná dňa 18.7.2006
Vybraný formát:
Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 1: Essai de rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour les couches intermetalliques)
Norma vydaná dňa 29.9.2010
Vybraný formát:
Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai de rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour films dielectriques de grille)
Norma vydaná dňa 29.3.2007
Vybraný formát:
Video systems (625/50 progressive) - Video and accompanied data using the vertical blanking interval - Analogue interface
(Systemes video (625/50 progressif) - Donnees video et donnees associees utilisant l´intervalle de suppression de trame - Interface analogique)
Norma vydaná dňa 26.2.2004
Vybraný formát:
Common control interface for networked digital audio and video products - Part 1: General
(Interface de commande commune des produits audio et video numeriques connectes en reseaux - Partie 1: Generalites)
Norma vydaná dňa 30.8.2007
Vybraný formát:
Common control interface for networked digital audio and video products - Part 2: Audio
(Interface de commande commune pour produits audio et video numeriques connectes en reseau - Partie 2: Audio)
Norma vydaná dňa 8.9.2008
Vybraný formát:
Common control interface for networked digital audio and video products - Part 3: Video
(Interface de commande commune pour produits audio et video numeriques connectes en reseaux - Partie 3: Video)
Norma vydaná dňa 5.6.2015
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 8890 až 8900 z celkom 11545 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-06-15 (Počet položiek: 2 282 497)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.