Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Normy IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 800
IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
IEC 62047-4-ed.2.0-RLV
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS
Norma vydaná dňa 7.1.2026
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 62047-40-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 40:Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold
Norma vydaná dňa 3.9.2021
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 62047-41-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 41: RF MEMS circulators and isolators
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 41: Circulateurs et isolateurs a MEMS RF)
Norma vydaná dňa 15.6.2021
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 62047-42-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 42: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever
Norma vydaná dňa 16.9.2022
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 62047-43-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 43: Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices
Norma vydaná dňa 19.3.2024
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 62047-44-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 44: Test methods for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive devices
Norma vydaná dňa 22.2.2024
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 62047-45-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 45: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of impact resistance of nanostructures
Norma vydaná dňa 20.3.2025
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 62047-46-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 46: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of tensile strength of nanoscale thickness membrane
Norma vydaná dňa 23.4.2025
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 62047-47-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 47: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of bending strength of microstructures
Norma vydaná dňa 23.8.2024
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 62047-48-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 48: Test method for determining solution concentration by optical absorption using MEMS fluidic device
Norma vydaná dňa 7.6.2024
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 7990 až 8000 z celkom 11431 záznamov.
Potrebujete pomoc?
