Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de duree de vie sous temperature et humidite avec polarisation)
Norma vydaná dňa 19.12.2023
Vybraný formát:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Norma vydaná dňa 19.12.2023
Vybraný formát:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 6: Stockage a haute temperature)
Norma vydaná dňa 3.3.2017
Vybraný formát:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 7: Mesure de la teneur en humidite interne et analyse des autres gaz residuels)
Norma vydaná dňa 27.11.2025
Vybraný formát:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 8: Etancheite)
Norma vydaná dňa 30.8.2002
Vybraný formát:
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 8: Etancheite)
Oprava vydaná dňa 23.4.2003
Vybraný formát:
Corrigendum 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
(Corrigendum 2 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 8: Etancheite)
Oprava vydaná dňa 12.8.2003
Vybraný formát:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 9: Permanence du marquage)
Norma vydaná dňa 3.3.2017
Vybraný formát:
Industrial platinum resistance thermometers and platinum temperature sensors
(Thermometres a resistance de platine industriels et capteurs thermometriques de platine industriels)
Norma vydaná dňa 27.1.2022
Vybraný formát:
Test on gases evolved during combustion of materials from cables - Part 1: Determination of the halogen acid gas content
(Essai sur les gaz emis lors de la combustion des materiaux des cables - Partie 1: Determination de la quantite de gaz acide halogene)
Norma vydaná dňa 17.11.2011
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 3960 až 3970 z celkom 11573 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-08-18 (Počet položiek: 2 297 400)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.