Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Corrigendum 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
Automaticky preložený názov:
Oprava 2 - Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 8 : Tesnenie
NORMA vydaná dňa 12.8.2003
Označenie normy: IEC 60749-8-ed.1.0/Cor.2
Poznámka: Oprava
Dátum vydania normy: 12.8.2003
Kód tovaru: NS-411423
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Modification of the validity date: now put at 2007. Modification de la date de validite : fixee maintenant a 2007.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 8: Etancheite)
Norma vydaná dňa 30.8.2002
Vybraný formát:
Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2026-03-16 (Počet položiek: 2 266 785)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.