Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Normy IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 391
IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
IEC 60748-5-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 5: Semicustom integrated circuits
(Dispositifs a semiconducteurs - Circuits integres - Partie 5: Circuits integres semi-personnalises)
Norma vydaná dňa 30.5.1997
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 60749-1-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 1: Generalites)
Norma vydaná dňa 30.8.2002
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 60749-1-ed.1.0/Cor.1
Oprava
Zobraziť všetky technické informácie
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 1: Generalites)
Oprava vydaná dňa 12.8.2003
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 60749-10-ed.2.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - device and subassembly
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d’essais mecaniques et climatiques - Partie 10: Chocs mecaniques - Dispositif et sous-ensemble)
Norma vydaná dňa 27.4.2022
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 60749-11-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 11: Variations rapides de temperature - Methode des deux bains)
Norma vydaná dňa 12.4.2002
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 60749-11-ed.1.0/Cor.1
Oprava
Zobraziť všetky technické informácie
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 11: Variations rapides de temperature - Methode des deux bains)
Oprava vydaná dňa 30.1.2003
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 60749-11-ed.1.0/Cor.2
Oprava
Zobraziť všetky technické informácie
Corrigendum 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
(Corrigendum 2 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 11: Variations rapides de temperature - Methode des deux bains)
Oprava vydaná dňa 13.8.2003
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 60749-12-ed.2.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 12: Vibrations, frequences variables)
Norma vydaná dňa 13.12.2017
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 60749-13-ed.2.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
(Dispositifs a seminconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 13: Atmosphere saline)
Norma vydaná dňa 15.2.2018
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 60749-14-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 14: Robustesse des sorties (integrite des connexions))
Norma vydaná dňa 7.8.2003
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 3900 až 3910 z celkom 11596 záznamov.
Potrebujete pomoc?
