Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
Automaticky preložený názov:
Oprava 1 - Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 1 : Všeobecne
NORMA vydaná dňa 12.8.2003
Označenie normy: IEC 60749-1-ed.1.0/Cor.1
Poznámka: Oprava
Dátum vydania normy: 12.8.2003
Kód tovaru: NS-411360
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Modification of the validity date: now put at 2007. Modification de la date de validite : fixee maintenant a 2007.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 1: Generalites)
Norma vydaná dňa 30.8.2002
Vybraný formát:Posledná aktualizácia: 2026-01-26 (Počet položiek: 2 257 479)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.