Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 60749-1-ed.1.0
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 1: Všeobecné
NORMA vydaná dňa 30.8.2002
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 60749-1-ed.1.0
Dátum vydania normy: 30.8.2002
Kód tovaru: NS-411361
Počet strán: 15
Približná hmotnosť: 45 g (0.10 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC 60749-1-ed.1.0 :
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) and establishes provisions common to all the other parts of the series. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy. Applicable aux dispositifs a semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits integres)et etablit des dispositions communes a toutes les autres parties de la serie. Le contenu du corrigendum daout 2003 a ete pris en consideration dans cet exemplaire.
K tejto norme patria tieto opravy:
IEC 60749-1-ed.1.0/Cor.1
Oprava
Zobraziť všetky technické informácie
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 1: Generalites)
Oprava vydaná dňa 12.8.2003
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
