Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 60749-11-ed.1.0
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 11: Rýchla zmena teploty - metóda Two-kvapalina-kúpele
NORMA vydaná dňa 12.4.2002
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 60749-11-ed.1.0
Dátum vydania normy: 12.4.2002
Kód tovaru: NS-411366
Počet strán: 13
Približná hmotnosť: 39 g (0.09 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC 60749-11-ed.1.0 :
Defines the rapid change of temperature test method and the two-fluid-bath method. This test method may also be used, employing fewer cycles, to test the effect of immersion in heated liquids that are used for the purpose of cleaning devices. This test is applicable to all semiconductor devices. It is considered destructive unless otherwise detailed in the relevant specification. The contents of the corrigenda of January 2003 and August 2003 have been included in this copy. Definit la methode dessai de variations rapides de temperature et la methode des deux bains. Cette derniere methode dessai peut egale-ment etre utilisee, en appliquant moins de cycles, pour determiner leffet de limmersion dans des liquides chauds qui est utilisee pour le nettoyage des dispositifs. Cet essai est applicable a tous les dispositifs a semiconducteurs. Il est considere comme destructif, sauf stipulation contraire dans la specification applicable. Le contenu des corrigenda de janvier 2003 et daout 2003 a ete pris en consideration dans cet exemplaire.
K tejto norme patria tieto opravy:
IEC 60749-11-ed.1.0/Cor.1
Oprava
Zobraziť všetky technické informácie
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 11: Variations rapides de temperature - Methode des deux bains)
Oprava vydaná dňa 30.1.2003
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 60749-11-ed.1.0/Cor.2
Oprava
Zobraziť všetky technické informácie
Corrigendum 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
(Corrigendum 2 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 11: Variations rapides de temperature - Methode des deux bains)
Oprava vydaná dňa 13.8.2003
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Podobné normy:
20.12.1996
9.5.1997
22.12.1998
29.7.1999
30.9.1999
16.6.2000
Doporučujeme:
