Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 60749-27-ed.2.0
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 27: Skúšanie citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Model stroja (MM)
NORMA vydaná dňa 18.7.2006
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 60749-27-ed.2.0
Dátum vydania normy: 18.7.2006
Kód tovaru: NS-411392
Počet strán: 25
Približná hmotnosť: 75 g (0.17 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC 60749-27-ed.2.0 :
Establishes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine model (MM) electrostatic discharge (ESD). It may be used as an alternative test method to the human body model ESD test method. The objective is to provide reliable, repeatable ESD test results so that accurate classifications can be performed. This test method is applicable to all semiconductor devices and is classified as destructive Etablit une procedure normalisee pour les essais et les classements des dispositifs a semiconducteurs en fonction de leur sensibilite aux dommages ou a la degradation du fait de leur exposition a une decharge electrostatique (DES) sur un modele de machine (MM) defini. Elle peut etre utilisee comme une methode dessai en variante a la methode dessai de DES sur le modele du corps humain. Lobjectif est de fournir des resultats dessai de DES fiables et reproductibles de maniere a ce que des classifications precises puissent etre realisees. Cette methode dessai est applicable a tous les dispositifs a semiconducteurs et elle est classee destructive.
K tejto norme patria tieto zmeny:
IEC 60749-27-ed.2.0/Amd.1
Zmena
Zobraziť všetky technické informácie
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
(Amendement 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 27: Essai de sensibilite aux decharges electrostatiques (DES) - Modele de machine (MM))
Zmena vydaná dňa 25.9.2012
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Podobné normy:
11.12.2001
30.8.2010
30.8.2010
11.12.2012
29.9.2000
11.6.2003
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
