Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové prístroje - Časť 1: v závislosti na čase elektrický prieraz (TDDB) test na inter-kovových vrstiev.
NORMA vydaná dňa 1.6.2011
Označenie normy: DIN EN 62374-1:2011-06
Dátum vydania normy: 1.6.2011
Kód tovaru: NS-239813
Počet strán: 18
Približná hmotnosť: 54 g (0.12 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen.
1.10.2012
NEPLATNÁ
1.11.2012
NEPLATNÁ
1.11.2012
NEPLATNÁ
1.6.2011
1.4.2014
1.2.2007
Posledná aktualizácia: 2024-09-25 (Počet položiek: 2 350 354)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.