E DIN EN 62047-15:20..
Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
DIN EN 62374-1:2011-06
Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové prístroje - Časť 1: v závislosti na čase elektrický prieraz (TDDB) test na inter-kovových vrstiev.
NORMA vydaná dňa 1.6.2011
Informácie o norme:
Označenie normy: DIN EN 62374-1:2011-06
Dátum vydania normy: 1.6.2011
Kód tovaru: NS-239813
Počet strán: 18
Približná hmotnosť: 54 g (0.12 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy DIN EN 62374-1:2011-06 :
Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen.
Podobné normy:
1.10.2012
NEPLATNÁ
1.11.2012
NEPLATNÁ
1.11.2012
NEPLATNÁ
1.6.2011
1.4.2014
1.2.2007
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
