E DIN EN 62483:2012-..
Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
DIN EN 62047-2:2007-02
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 2: Tensile testing method of thin film materials.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Micro-elektromechanické zariadenia - Časť 2: Skúška ťahom metóda tenkovrstvových materiálov.
NORMA vydaná dňa 1.2.2007
Informácie o norme:
Označenie normy: DIN EN 62047-2:2007-02
Dátum vydania normy: 1.2.2007
Kód tovaru: NS-239568
Počet strán: 14
Približná hmotnosť: 42 g (0.09 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Kategórie - podobné normy:
Polovodičová zařízení obecně
Elektromechanické komponenty obecně
Anotácia textu normy DIN EN 62047-2:2007-02 :
Halbleiterbauelemente - Bauteile der Mikrosystemtechnik - Teil 2: Prüfverfahren zur Zugbeanspruchung bei Dünnschicht-Werkstoffen.
Podobné normy:
1.2.2008
1.6.2011
1.12.2010
1.12.2010
NEPLATNÁ
1.5.2012
NEPLATNÁ
1.5.2014
Doporučujeme:
