Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové zariadenia - v závislosti na čase Dielektrická (TDDB) skúšobné pre brán dielektrických vrstiev.
NORMA vydaná dňa 1.2.2008
Označenie normy: DIN EN 62374:2008-02
Dátum vydania normy: 1.2.2008
Kód tovaru: NS-239814
Počet strán: 24
Približná hmotnosť: 72 g (0.16 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten.
1.4.2003
NEPLATNÁ
1.4.2010
1.10.2009
1.1.2012
1.12.2003
1.7.2011
Posledná aktualizácia: 2024-09-25 (Počet položiek: 2 350 354)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.