Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
DIN EN 62374:2008-02
Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové zariadenia - v závislosti na čase Dielektrická (TDDB) skúšobné pre brán dielektrických vrstiev.
NORMA vydaná dňa 1.2.2008
Informácie o norme:
Označenie normy: DIN EN 62374:2008-02
Dátum vydania normy: 1.2.2008
Kód tovaru: NS-239814
Počet strán: 24
Približná hmotnosť: 72 g (0.16 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy DIN EN 62374:2008-02 :
Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten.
Podobné normy:
1.4.2003
NEPLATNÁ
1.4.2010
1.10.2009
1.1.2012
1.12.2003
1.7.2011
Odporúčame:
Aktualizácia zákonov
Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
