Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Metallization stress void test.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové zariadenia - Metalizovanie stres void test.
NORMA vydaná dňa 1.12.2010
Označenie normy: DIN EN 62418:2010-12
Dátum vydania normy: 1.12.2010
Kód tovaru: NS-239836
Počet strán: 19
Približná hmotnosť: 57 g (0.13 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren zur Metallisierungs-Stressmigration.
1.7.2001
1.7.2001
1.4.2001
1.4.2006
1.8.2005
NEPLATNÁ
1.11.2003
Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2024-07-15 (Počet položiek: 2 330 983)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.