E DIN EN 10337:2003-..
Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
DIN EN 62418:2010-12
Semiconductor devices - Metallization stress void test.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové zariadenia - Metalizovanie stres void test.
NORMA vydaná dňa 1.12.2010
Informácie o norme:
Označenie normy: DIN EN 62418:2010-12
Dátum vydania normy: 1.12.2010
Kód tovaru: NS-239836
Počet strán: 19
Približná hmotnosť: 57 g (0.13 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy DIN EN 62418:2010-12 :
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren zur Metallisierungs-Stressmigration.
Podobné normy:
1.7.2001
1.7.2001
1.4.2001
1.4.2006
1.8.2005
NEPLATNÁ
1.11.2003
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
