DIN EN 62374-1:2011-06

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers.

NORMA vydaná dňa 1.6.2011

Nemecky -
PDF - okamžité stiahnutie (92.60 EUR)

Nemecky -

Tlačené (112.00 EUR)

Nemecky -

CD-ROM (94.10 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: DIN EN 62374-1:2011-06
Dátum vydania normy: 1.6.2011
Počet strán: 18
Približná hmotnosť: 54 g (0.12 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy DIN EN 62374-1:2011-06 :

Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen.