DIN - Německé národní normy - strana 17412

Normy DIN - Německé národní normy - strana 17412

DIN - je chráněné označení německých národních technických norem.

Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "Normy DIN - strana 17412" podľa:    


E DIN EN 62047-21:2012-11 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson´s ratio of thin film MEMS materials.

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.11.2012

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
77.20


do 7 pracovných dní
E DIN EN 62047-22:2012-11 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates.

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.11.2012

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
63.30


do 7 pracovných dní
E DIN EN 62047-25:2014-05 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 25: Silicon-based MEMS fabrication technology - Measurement method of pull-press and shearing strength of micro bonding area.

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.5.2014

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
105.40


do 7 pracovných dní
E DIN EN 62047-26:2014-05 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 26: Description and measurement methods for micro trench and needle structures.

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.5.2014

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
116.60


do 7 pracovných dní
E DIN EN 62047-27:2015-08 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 27: Bond strength test for glass frit bonded structures using micro-chevron-tests (MCT).

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.8.2015

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
91.00


do 7 pracovných dní
E DIN EN 62047-28:2015-09 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 28: Performance testing method of vibration-driven MEMS electret energy harvesting devices.

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.9.2015

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
91.00


do 7 pracovných dní
E DIN EN 62047-29:2016-08 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 29: Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin-films under room temperature.

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.8.2016

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
69.90


do 7 pracovných dní
E DIN IEC 62047-3:2004-08 NEPLATNÁ

Microelectromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece.

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.8.2004

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
41.80


do 7 pracovných dní
E DIN EN 62047-30:2016-08 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 30: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of MEMS piezoelectric thin film.

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.8.2016

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
105.40


do 7 pracovných dní
E DIN IEC 62047-4:2006-09 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS.

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.9.2006

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
111.40


do 7 pracovných dní

Zobrazený záznam od 174110 až 174120 z celkom 199119 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.