Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
                  
        
        Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates.
          Automaticky preložený názov:
          Polovodičové prístroje - Micro - elektromechanické zariadenia - Časť 22 : Elektromechanický skúška ťahom metóda pre vodivé tenkých vrstiev na pružné podklady.        
      
NORMA vydaná dňa 1.11.2012
    
        Označenie normy: E DIN EN 62047-22:2012-11
                
                
                
                Poznámka:    NEPLATNÁ
               
                Dátum vydania normy:  1.11.2012
                  Kód tovaru:  NS-292597
          Počet strán: 14
Približná hmotnosť: 42 g (0.09 libier)
        Krajina:          Nemecká technická norma (Návrh)
        Kategória: Technické normy DIN
        
                
              
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 22: Elektromechanisches Zug-Prüfverfahren für leitfähige Dünnschichten auf flexiblen Substraten.
      Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy? 
      Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate. 
     
      Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
    
Posledná aktualizácia: 2025-11-03 (Počet položiek: 2 242 248) 
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.