Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
E DIN EN 62047-27:2015-08 (Návrh)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 27: Bond strength test for glass frit bonded structures using micro-chevron-tests (MCT).
Automaticky preložený názov:
Polovodičové prístroje - Micro - elektromechanické zariadenia - Časť 27 : Bond skúška pevnosti pre sklenené frity viazaných konštrukcií pomocou mikro - Chevron - testov ( MCT ).
NORMA vydaná dňa 1.8.2015
Informácie o norme:
Označenie normy: E DIN EN 62047-27:2015-08
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.8.2015
Kód tovaru: NS-603241
Počet strán: 26
Približná hmotnosť: 78 g (0.17 libier)
Krajina: Nemecká technická norma (Návrh)
Kategória: Technické normy DIN
Anotácia textu normy E DIN EN 62047-27:2015-08 :
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 27: Prüfung der Bondfestigkeit von Glasfritt gebondeten Strukturen unter Verwendung des Mikro-Chevron-Tests (MCT).
Doporučujeme:
