Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
IEC/TS 63064-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Graphical symbols for diagrams - Guidance on design for standardization in IEC 60617
Norma vydaná dňa 23.1.2018
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC/TR 63065-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Norma vydaná dňa 15.9.2017
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC/TR 63065-ed.1.0/Amd.1
Zmena
Zobraziť všetky technické informácie
Amendment 1 - Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Zmena vydaná dňa 3.6.2022
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC/TR 63065-ed.1.1+Amd.1-CSV
Zobraziť všetky technické informácie
Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Norma vydaná dňa 3.6.2022
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 63066-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Low-voltage docking connectors for removable energy storage units
(Connecteurs de raccordement a basse tension pour unites de stockage d´energie amovibles)
Norma vydaná dňa 10.7.2026
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 63067-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Electrical installations for lighting and beaconing of aerodromes - Connecting devices - General requirements and tests
(Installations electriques pour l´eclairage et le balisage des aerodromes - Dispositifs de connexion - Exigences generales et essais)
Norma vydaná dňa 24.6.2020
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 63068-1-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects
Norma vydaná dňa 30.1.2019
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 63068-2-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspection
Norma vydaná dňa 30.1.2019
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 63068-3-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescence
(Dispositifs a semiconducteurs - Criteres de reconnaissance non destructifs des defauts au sein d’une plaquette homoepitaxiale de carbure de silicium pour des dispositifs d’alimentation - Partie 3 : Methode d’essai pour les defauts a l’aide de la photoluminescence)
Norma vydaná dňa 13.7.2020
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
IEC 63068-4-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4: Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence
Norma vydaná dňa 27.7.2022
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 10790 až 10800 z celkom 11582 záznamov.
Potrebujete pomoc?
