Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Normy GB - Čínské národní normy - strana 8779
Normy GB jsou čínské národní normy, které vydává Čínský standardizační správní úřad (SAC).
Pod obvyklým názvem normy GB se čínské národní normy využívají po celé Číně a uvádějí sjednocené výrobní požadavky na bezpečnost a kvalitu produktů.
Normy GB jsou často upraveny či přímo vytvářeny podle mezinárodních norem ISO, IEC či na jiné mezinárodní úrovni. I když jsou ve velké míře harmonizovány, normy GB se od mezinárodních norem mohou odlišovat.
Přibližně 15% všech norem GB je závazných a lze je rozpoznat pomocí předpony GB, po které následuje kód normy:
GB - Závazné národní normy
GB/T - Dobrovolné národní normy
GB/Z - Národní řídící technický dokument
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
GB/T 6613-1986
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Titanium alloy TC4 sheet and plate for important applications
NEPLATNÁ vydaná dňa 24.7.1986
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB 6614-1986
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
-
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 6614-1994
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Titanium and titanium alloy castings
NEPLATNÁ vydaná dňa 9.5.1994
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB 6615-1986
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Standard method for resistivity of silicon slices with collinear four-probe array measuring
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB 6616-1986
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Standard method for measuring resistivity of silicon slices by noncontacting technique
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 6616-1995
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Test method for measuring resistivity of semiconductor silicon or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gage
NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 6616-2009
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Test methods for measuring resistivity of semiconductor wafers or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gauge
NEPLATNÁ vydaná dňa 30.10.2009
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB 6617-1986
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Standard method for measuring resistivity of silicon wafers using spreading resistance probe
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 6617-1995
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Test method for measuring resistivity of silicon wafers using spreading resistance probe
NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB 6618-1986
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Standard method for measuring thickness and total thickness variation of silicon slices
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 87780 až 87790 z celkom 94224 záznamov.
Potrebujete pomoc?
