Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
GB/T 6617-1995
Test method for measuring resistivity of silicon wafers using spreading resistance probe
NORMA vydaná dňa 18.4.1995
Informácie o norme:
Označenie normy: GB/T 6617-1995
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 18.4.1995
Kód tovaru: NS-888240
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Odporúčame:
Aktualizácia zákonov
Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
