Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Test method for measuring resistivity of semiconductor silicon or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gage
NORMA vydaná dňa 18.4.1995
Označenie normy: GB/T 6616-1995
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 18.4.1995
Kód tovaru: NS-888238
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Poskytovanie aktuálnych informácií o legislatívnych predpisoch vyhlásených v Zbierke zákonov od roku 1945.
Aktualizácia 2x v mesiaci !
Chcete vedieť viac informácii ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2024-09-16 (Počet položiek: 2 433 731)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.