Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Normy GB - Čínské národní normy - strana 8780
Normy GB jsou čínské národní normy, které vydává Čínský standardizační správní úřad (SAC).
Pod obvyklým názvem normy GB se čínské národní normy využívají po celé Číně a uvádějí sjednocené výrobní požadavky na bezpečnost a kvalitu produktů.
Normy GB jsou často upraveny či přímo vytvářeny podle mezinárodních norem ISO, IEC či na jiné mezinárodní úrovni. I když jsou ve velké míře harmonizovány, normy GB se od mezinárodních norem mohou odlišovat.
Přibližně 15% všech norem GB je závazných a lze je rozpoznat pomocí předpony GB, po které následuje kód normy:
GB - Závazné národní normy
GB/T - Dobrovolné národní normy
GB/Z - Národní řídící technický dokument
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
GB/T 6618-1995
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Test method for thickness and total thickness variation of silicon slices
NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB 6619-1986
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Standard method for measuring bow of silicon slices
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 6619-1995
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Test methods for bow of silicon slices
NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB 662-1978
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
-
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1978
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB 6620-1986
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Standard method for measuring warp of silicon slices by noncontacting technique
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 6620-1995
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning
NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB 6621-1986
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Standard method for measuring surface flatness of polished silicon wafers by noncontact technique
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 6621-1995
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Test methods for surface flatness of silicon polished slices
NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB 6622-1986
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Detects of swirls and striations in chemically polished silicon wafers
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB 6623-1986
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Standard method for measuring the surface O. S. F of polished silicon wafers
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 87790 až 87800 z celkom 94224 záznamov.
Potrebujete pomoc?
