Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
GB 6621-1986
Standard method for measuring surface flatness of polished silicon wafers by noncontact technique
NORMA vydaná dňa 1.1.1986
Informácie o norme:
Označenie normy: GB 6621-1986
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.1.1986
Kód tovaru: NS-1236713
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
